A new method about measurement complex permittivity of dielectric thin film(um) is present in second part.

　

英美

由于目前关于薄膜态介质在微波段的介电特性的测量体系还未见报道，在第二部分针对薄膜的特点提出了多介质微扰法测量薄膜介电特性的新方法；

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