Testing Costs

　
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  • 測試代價

Testing Costs的用法和樣例：

例句

  1. The generation of a sort of uniform AMS IC DFT technique with low test cost and high fault coverage will meet the need of further development on IC design.
    統一的低測試代價和高故障覆蓋率的模擬及混合信號晶元可測性設計方法的產生對於晶元設計來說將是進一步發展的要求和保障。

Testing Costs的相關資料：

臨近單詞

test testiere
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