The test approach can detect any combinational faults within basic cell of CUT.

　
英 美
  • 该测试方法能侦测到被测电路基本组成单元的任意组合失效；
以上内容独家创作，受著作权保护，侵权必究

今日热词
相关词典网站：

牛津高阶第八版

美国韦氏词典

Dictionary.com

Free Dictionary

维基百科 (自由的百科全书)

目录 附录 查词历史