The polishing pad is main consumables of the CMP system, the structure and surface roughness of pad have great effects on the material removal rate and surface roughness of wafer.
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抛光垫是化学机械抛光(CMP)系统中的主要耗材之一,抛光垫的结构和表面粗糙度对CMP过程中的硅片材料去除率和表面粗糙度有很大影响。
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