Failure mechanisms, such as hot-carrier effect (HCE), dielectric breakdown, electro-static discharge (ESD) and electromigration, pose serious threat to the long-term reliability of VLSI circuits.
英
美
热载流子效应(HCE)、电介质击穿、静电放电,以及电迁移等失效机理,已经对VLSI电路的长期可靠性造成了极大的威胁。
单词 Failure mechanisms, such as hot-carrier effect (HCE), dielectric breakdown, electro-static discharge (ESD) and electromigration, pose serious threat to the long-term reliability of VLSI circuits. 的词典定义。@海词词典-最好的学习型词典
以上内容独家创作,受
著作权
保护,侵权必究
今日热词
相关词典网站:
牛津高阶第八版
美国韦氏词典
Dictionary.com
Free Dictionary
维基百科 (自由的百科全书)
目录
附录
音标说明
查词历史
海词
权威词典
翻译
英 汉
|
汉语
|
上海话
广东话
缩略语
人名