During testable design, the testability of single fault and multi-faults in circuit can be judged by changing topological structure, numbers and location of accessible nodes.
英
美
在可测性设计过程中,通过适当地改变拓扑结构与可及节点的个数和位置,对电路中单故障和多故障的可测性予以判定。
单词 During testable design, the testability of single fault and multi-faults in circuit can be judged by changing topological structure, numbers and location of accessible nodes. 的词典定义。@海词词典-最好的学习型词典
以上内容独家创作,受
著作权
保护,侵权必究
今日热词
相关词典网站:
牛津高阶第八版
美国韦氏词典
Dictionary.com
Free Dictionary
维基百科 (自由的百科全书)
目录
附录
音标说明
查词历史
海词
权威词典
翻译
英 汉
|
汉语
|
上海话
广东话
缩略语
人名