硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法

　

new

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法的英文翻译

基本释义

Standard test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconductivity decay

硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法的相关资料：

临近单词

硅硅华

以上内容独家创作，受著作权保护，侵权必究

今日热词

相关词典网站：

牛津高阶第八版

美国韦氏词典

Free Dictionary

维基百科 (自由的百科全书)

目录

附录

音标说明

查词历史