用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量硅中注入硼的深度分布及扩展电阻探针技术分辨率的估算

　

new

用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量硅中注入硼的深度分布及扩展电阻探针技术分辨率的估算的英文翻译

基本释义

Application of Secondary Ion Mass Spectrometry and Spreading Resistance Probe Technique for Measuring Depth Profile of Boron Implanted in Silicon and Estimation of Resolution of Spreading Resistance Probe Technique

用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量硅中注入硼的深度分布及扩展电阻探针技术分辨率的估算的相关资料：

临近单词

用用石膏处理

以上内容独家创作，受著作权保护，侵权必究

今日热词

相关词典网站：

牛津高阶第八版

美国韦氏词典

Free Dictionary

维基百科 (自由的百科全书)

目录

附录

音标说明

查词历史