微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法

　

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微电子元件抗静电放电域值的场诱导放电装置模型的试验方法的英文翻译

基本释义

Filed-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components

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